霍尼韦尔 QCS体系测厚仪二极管绿灯泡同位素测厚仪使用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，能够测定薄钢板、薄铜板
同位素测厚仪使用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，能够测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。
测厚仪的测验办法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
⒈在来测验的时分要注意规范片团体的金属磁性和外表粗糙度应当与试件类似。
⒊丈量时要注意基体金属的临界厚度，假如大于这个厚度丈量就不受基体金属厚度的影响。
⒋丈量时要注意试件的曲率对丈量的影响。因而在曲折的试件外表上丈量时不可靠的。
⒌丈量前要注意周围其他的电器设备会不会发生磁场，假如会将会搅扰磁性测厚法。
⒍丈量时要注意别在内转角处和接近试件边际处丈量，由于一般的测厚仪试件外表形状的遽然改变很灵敏。
⒏在来测验的时分要注意仪器测头和被测验件的要非直接触摸，因而超声波测厚仪在进行对侧头铲除附着物质。
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